GB/T 5170.8-2008

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 GB/T 5170.8-2008替代原先GB/T 5170.8-1996所使用，本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鹽霧試驗設(shè)備的檢定項目、檢定用儀器、測量點的位置與數(shù)量、檢定步驟和檢定數(shù)據(jù)的處理與檢定結(jié)果。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于對GB/T 2423.17《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka:鹽霧試驗方法》和GB 2423.18《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kb:交變鹽霧試驗方法(氯化鈉溶液)》所用鹽霧試驗設(shè)備的周期檢定。

本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類似設(shè)備的周期檢定。

GB/T 5170目前包含以下凡部分：

-GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則

-GB/T 5170.2--2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

-GB/T5170.5- 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

-GB/T 5170. 8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽霧試驗設(shè)備

-GB/T 5170. 9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 太陽輻射試驗設(shè)備

-GB/T5170. IO-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

-GB/T5170. 11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備

-GB/T 5170. 13 - 2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用機械振動臺

-GB/T 5170. 14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用電動振動臺

-GB/T5170. 10-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用液壓振動臺

-GB/T5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機

-GB/T 5170. 17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜臺順序試驗設(shè)備

-GB/T 5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組臺循環(huán)試驗設(shè)備

-GB/T 5170,.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基率參數(shù)檢定方法溫度/振動(正弦)綜合試驗設(shè)備

-一GB/T 5170.20--2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備

本部分是GB/T5170的第8部分。